Yokogawa ANT502-53 ESB Optički komunikacioni pojačivač

Opis proizvoda

Pregled proizvoda

YOKOGAWA ANT502-53 S1 je optički ESB sabirnički repetitor kao pomoćni modul namenjen za produženje komunikacionih daljina ESB sabirnice unutar Yokogawa distribuiranih upravljačkih sistema. Modul pretvara električne ESB sabirničke signale u optičke signale, omogućavajući komunikaciju na velikim udaljenostima otpornu na smetnje u velikim industrijskim postrojenjima.

Obično se koristi u CENTUM VP sistemima i radi u saradnji sa FIO i N-IO arhitekturama, pružajući stabilno i pouzdano produženje ESB sabirnice u sredinama gde su ograničenja električne prenosa ili elektromagnetne smetnje problem.

Funkcionalni opis

ANT502-53 radi kao optički repetitor na pomoćnoj strani ESB sabirnice. Pretvaranjem električnih signala u optički prenos preko vlakana, omogućava ESB mrežama da se prostiru na velike udaljenosti uz očuvanje integriteta signala i determinističkog ponašanja komunikacije.

Dizajn podržava fleksibilne mrežne topologije i redundantne sabirničke konfiguracije, što ga čini pogodnim za sisteme upravljanja sa visokom dostupnošću raspoređene na velikim površinama postrojenja.

Tehničke specifikacije

Električne i komunikacione karakteristike

• Pretvaranje signala

• Električna ESB sabirnica ⇔ optičko vlakno

• Brzina komunikacije

• ESB sabirnički standard, do 1,25 Mbps

• Udaljenost prenosa

• Do 5 km po optičkom skoku

• Redundancija

• Podržava dvostruke redundantne ESB sabirničke veze

Kompatibilnost sistema

• Yokogawa CENTUM VP

• FIO i N-IO podsistemske arhitekture

• Upravljanje i I/O mreže zasnovane na ESB sabirnici

Mehaničke specifikacije

• Dimenzije: 155,9 × 130 × 32,8 mm

• Težina: 0,2–0,25 kg (zavisno od konfiguracije)

• Ugradnja: montaža u ormar ili na ploču, kompaktan oblik

Uslovi okoline

• Radna temperatura: 0 °C do +55 °C

• Temperatura skladištenja: -20 °C do +70 °C

• Relativna vlažnost: 10% do 90% RH, bez kondenzacije

Usklađenost i dokumentacija

• Sertifikat porekla (COO)

• Dostupan izveštaj o fabričkim ispitivanjima